Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.11851/8031
Title: Kriyojenik Süperiletken Devre Paketleri İçin Bir Test Sistemi
Authors: Bozbey, Ali
Razmkhah, Sasan
Publisher: Türk Patent ve Marka Kurumu
Abstract: Bu buluş, hızlı veri işleme ve düşük güç harcama özelliklerine sahip olan kriyojenik süperiletken devre paketlerinin (200) çalışma performansını arttıran ve bu devre paketlerinin (200) uygun çalışma koşullarında test edilmesini sağlayan bir test sistemi (100) ile ilgilidir. Buluş konusu test sistemi (100), süperiletken devre paketlerini (200) uygun çalışma koşullarında test etmek için, gerekli soğutma ve termal iletkenlik koşullarını sağlamakta ve süperiletken devre paketlerini (200) titreşimden korumaktadır.
URI: https://hdl.handle.net/20.500.11851/8031
Appears in Collections:Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü / Department of Electrical & Electronics Engineering
Patent Koleksiyonu / Patent Collection

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2017_17652 Tarifname.pdf3.91 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record



CORE Recommender

Page view(s)

130
checked on Dec 23, 2024

Download(s)

32
checked on Dec 23, 2024

Google ScholarTM

Check





Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.