Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.11851/2289
Title: İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması
Other Titles: Bit impact factor: Towards making fair vulnerability comparison
Authors: Ergin, Oğuz
Can, Serdar Zafer
Keywords: Bit impact
Vulnerability Soft errors
Microprocessors
Hataya karşı dayanıklılık
Geçici hatalar
Mikroişlemciler
Issue Date: 2015
Publisher: TOBB University of Economics and Technology,Graduate School of Engineering and Science
TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü
Source: Can, S. (2015). İşlemci yapılarının hatalara karşı hassasiyetini karşılaştırmak için yeni bir bit etki katsayısı tanımlanması ve kullanılması. Ankara: TOBB ETÜ Fen Bilimleri Enstitüsü. [Yayınlanmamış yüksek lisans tezi]
Abstract: Üretim teknolojisinin ilerlemesi ile birlikte mikroişlemcilerde kullanılan transistörlerin boyutları da küçülmektedir. Bu küçülme sayesinde hem çalışma gerilimleri daha düşük seviyelere çekilebilmekte, hem de tümleşik devrelere daha fazla sayıda transistör yerleştirilerek, mikroişlemcilerin işlem ve hafıza kapasiteleri artırılabilmektedir. Ancak transistör boyutlarındaki bu küçülme, mikroişlemcilerin geçici hatalara karşı hassasiyetini arttırmıştır. Günümüzde işlemci mimarlarının oluşturdukları yapıların hassasiyetlerini tasarım aşamasında ölçebilmeleri için en çok kullandıkları katsayı Mimari Hassasiyet Katsayısıdır (MHK). Mimarlar bu katsayıya bakarak sistemlerinin güvenilirliği konusunda üretimden önce fikir edinirler. MHK sistemdeki bitleri hataya karşı hassas veya dayanıklı gibi iki farklı kategoride inceler. Ancak hassas bir bitteki değişimin sistemde ne kadar etki yarattığı konusunda herhangi bir bilgi vermez. Bu tezde, TÜBİTAK'ın 112E004 numaralı "Geçici Hatalara Karşı Dayanıklı Mikroişlemciler" projesi dâhilinde MHK da kullanılarak bir bitte oluşabilecek hatanın sisteme ne kadar etki ettiğini belirlemek amacıyla yeni bir katsayı tanımı yapılmıştır ve analiz sonuçları diğer katsayılarla karşılaştırılmıştır.
Transistors used in microprocessors are shrinking with the advancements in the manufacturing technology. With the help of this scaling on the transistors, operating voltages can be lowered and both computational power and memory capacity can be increased by placing transistors denser. However, smaller transistors lead growth of the soft error vulnerability of the microprocessors. Today, architects generally use Architectural Vulnerability Factor (AVF) as vulnerability metric for their products at the design time. It gives them an idea about how much reliable their system is. AVF considers that the value of a bit is either required for Architecturally Correct Execution (ACE-bit) or not (unACE-bit). Therefore, AVF cannot distinguish the vulnerability impact level of an Architecturally Correct Execution - ACE bit. In this thesis, a new metric is introduced by extending AVF to provide more accurate vulnerability analysis of the bits in the system and it is compared with the other metrics. This thesis was supported by a TUBITAK project titled "Reliable Microprocessor Design" under grant number 112E004.
URI: https://hdl.handle.net/20.500.11851/2289
https://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/tezSorguSonucYeni.jsp
Appears in Collections:Bilgisayar Mühendisliği Yüksek Lisans Tezleri / Computer Engineering Master Theses

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
409936.pdf1.7 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show full item record

CORE Recommender

Page view(s)

38
checked on Dec 26, 2022

Download(s)

36
checked on Dec 26, 2022

Google ScholarTM

Check


Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.