Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/20.500.11851/8031
Title: Kriyojenik Süperiletken Devre Paketleri İçin Bir Test Sistemi
Authors: Bozbey, Ali
Razmkhah, Sasan
TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi
TOBB Ekonomi ve Teknoloji Üniversitesi
Issue Date: 9-Nov-2017
Publisher: Türk Patent ve Marka Kurumu
Abstract: Bu buluş, hızlı veri işleme ve düşük güç harcama özelliklerine sahip olan kriyojenik süperiletken devre paketlerinin (200) çalışma performansını arttıran ve bu devre paketlerinin (200) uygun çalışma koşullarında test edilmesini sağlayan bir test sistemi (100) ile ilgilidir. Buluş konusu test sistemi (100), süperiletken devre paketlerini (200) uygun çalışma koşullarında test etmek için, gerekli soğutma ve termal iletkenlik koşullarını sağlamakta ve süperiletken devre paketlerini (200) titreşimden korumaktadır.
URI: https://hdl.handle.net/20.500.11851/8031
Appears in Collections:Elektrik ve Elektronik Mühendisliği Bölümü / Department of Electrical & Electronics Engineering
Patent Koleksiyonu / Patent Collection

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2017_17652 Tarifname.pdf3.91 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record

CORE Recommender

Page view(s)

30
checked on Nov 21, 2022

Download(s)

12
checked on Nov 21, 2022

Google ScholarTM

Check


Items in GCRIS Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.